Tester integrovanych obvodov

Uvodne menu

Mate doma nejaky integrovany obvod a potrebujete ho otestovat ci je funkcny ? Ak ano, potom je pre vas vhodny tento testovaci system, ktory umoznuje testovat bezne cislicove integrovane obvody SSI a MSI v puzdrach DIL14 a DIL16. System pozostava z jednoducheho testovacieho modulu a jeho obsluzneho programu. Testovaci modul sa pripaja na standartnu 8255 na portoch 31, 63, 95 a 127. Porty A a B su vystupne a sluzia na nastavovanie logickych urovni na vstupoch testovaneho obvodu, styri bity portu C ovladaju multiplexor MH74150 umoznujuci dalsim bitom portu C nacitat stavy na vsetkych pinoch testovaneho obvodu.

Ked chcete nejaky obvod testovat, najprv si ho musite vybrat. Pri vybere sa vam ukaze zoznam vsetkych obvodov, ktore ma program vo svojej databaze. Pre kazdy vybrany obvod sa zobrazi kratka specifikacia co je to za obvod a aku funkciu plni. Nuz a ktore ze to obvody mozete najst v zozname ? Tu su: MH3205 MH7400 MH7403 MH7404 MH7405 MH7410 MH74151 MH74188 MH7420 MH7430 MH7437 MH7438 MH7440 MH7451 MH7454 MH7474 MH7475 MH7489 MH74S187 MH74S201 MH74S287 MH74S370 MH82S11 MHB4001 MHB4002 MHB4011 MHB40114 MHB4012 MHB4013 MHB4020 MHB4024 MHB4029 MHB4030 MHB4068 MHB4076 MHB4081 MHB4311 MHB4543 MHB4555 MHB5902

Vyber cipu
Test cipu

Vybrany obvod mozete testovat bud rucne alebo automaticky. Rucny test vam umozni nastavit hodnoty vsetkych vstupov a sledovat stavy na vystupoch. Automaticky test obvodu funguje tak, ze na vstupoch sa generuje urcita vhodna postupnost signalov a vsetky vystupy sa sleduju ci sa na nich nachadzaju stavy, ktore zodpovedaju vstupnej postupnosti. Testovacie postupnosti pre sekvencne obvody su navrhnute tak, aby sa otestovali vsetky mozne kombinacie vnutornych stavov obvodov. Pre cisto kombinacne obvody sa zase vygeneruju vsetky mozne kombinacie vstupnch stavov a sleduje sa ci im vystupy zodpovedaju. V pripade, ak sa najde nejaka chyba, t.j. stav na nejakom vyvode nezodpoveda predpokladanemu stavu, tento vyvod sa oznaci cervene. Pritom sa testuju aj vstupy, t.j. ak stav na vstupe nezodpoveda stavu, aky na vstup poslal testovaci modul, potom aj tento vstup sa oznaci cervene.

Ramky sa netestuju ako klasicke sekvencne obvody, pretoze otestovanie vsetkych vnutornych stavov by mohlo trvat neunosne dlho. Miesto toho sa robi jednoduchsi test pozostavajuci z piatich faz. Kazda faza zaplni celu ramku urcitym testovacim vzorom a potom skontroluje ci sa tento testovaci vzor naozaj aj v ramke nachadza. Prve dva testovacie vzory su velmi jednoduche - vsetky bity nulove a vsetky bity jednotkove. Pomocou tychto vzorov sa skontroluje ci pametove bunky su vobec schopne si nieco pametat. Dalsie tri testovacie vzory su tri rozne kombinacie dvoch bity nulovych a jedneho jednotkoveho bitu (100 010 001), pricom kazda tato kombinacia sa vo svojom testovacom vzore periodicky opakuje. Tento test je velmi vhodny pre odhalenie vsetkych pravouhlych medzibitovych skratov (napr. ked je interna porucha niektorych adresovych signalov). Prave na toto je velmi vhodna perioda opakovania vzoru 3, pretoze vsetky ramky maju organizaciu 2^N bitov. Na konci testu sa objavi vypis vsetkych bitov ramky, pricom pismenom D je oznaceny dobry bit a pismenom Z chybny alebo zly bit.

Vysledok testu ramky
Vypis obsahu romky

Na pametiach ROM zvycajne nie je co testovat, preto test romiek spociva len v zobrazeni obsahu romky. Uzivatel potom moze na zaklade obsahu posudit, ci je v romke to, co tam chce mat. Vypis je v desiatkovej aj sestnaskovej sustave.

Cely tento projekt vymyslel moj priatel a kolega Ing. Martin Kubecka, ktory zabezpecil celu vec aj po hardwerovej stranke. Navrhol a vyrobil testovaci modul a zohnal vsetky potrebne obvody pre vyskusanie testovania. Ja som potom uz len naprogramoval cely tento program okrem ovladaca pre prvu verziu testovacieho modulu, ktory naprogramoval moj dalsi priatel a spoluziak zo skoly Ing. Jaro Popluhar.